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电容型套管的介质耗损因数试验
编辑：恒电高测 浏览： 添加时间：2014-03-13 09:32
一、试验目的
测量电容型套管主电容和末屏对地的电容量和介质损耗因数tanθ，是判断高压套管是否受潮、绝缘劣化的一个重要试验项目。
二、试验方法
测量单套管主电容的电容量和介质损耗因数tanθ，可以采用西林电桥正接法测量。套管高压端加电压测量，末屏接入西林电桥测量端。
对安装于变压器上的套管测量时，应给被试套管连接的所有绕组短接加压，其余绕组短接接地。因为未短路绕组的各部位电位和相角可能不同，通过杂散电容对被测套管的测量产生影响。对于未安装在变压器上的套管(如马上要安装到变压器上的电容型套管)，应将套管垂直竖立，中间法兰接地，套管下半部侵入合格的变压器油中。在上述测量中应将套管表面擦拭干净，排除瓷套表面脏污的影响。
三、试验结果判断
DL/T 596-1996《电气设备预防性试验规程》中对油纸电容型套管的tanθ要求见下表
油纸电容型套管的tanθ
|
电压等级(KV) |
20~35 |
66~110 |
220~550 |
|
大修后 |
1.0 |
1.0 |
0.8 |
|
运行中 |
1.0 |
1.0 |
0.8 |
电容型套管的电容值与上一次或出厂值的差别超出±5%时，应查明原因。
油纸电容型套管的介质损耗因数tanθ一般不进行温度换算，因为油纸电容型套管的主绝缘为油纸绝缘，其介质损耗因数tanθ与温度的关系取决于油与纸的综合性能，在现场测量温度速度内其介质损耗因数tanθ一般不会变化，所以不需要换算。
四、末屏对地的介质损耗因数tanθ
除测量主电容的电容量和介质损耗因数tanθ外，还需要测量末屏对地的介质损耗因数tanθ。DL/T 596——1996《电气设备预防性试验规程》中规定当电容型套管末屏对地绝缘电阻小于1000MΩ时，需要测量末屏对地介质损耗因数tanθ，其值不大于2%。测量电容型套管末屏对地的介质损耗因数tanθ对发现绝缘受潮很灵敏，测量时采用电桥反接法测量，带你呀不应大于3kV。
